آنالیز طیف سنجی
پراش پرتوی ايكس (XRD) يك روش غير مخرب و مناسب برای تعيين تركيب و خصوصيات كريستالی مواد است. اين آزمون در نمونه‌های پودری و بالك قابل انجام است. الگوی پراش اشعه X مواد خالص، شكلی مشخص و منحصر به فرد دارد. شناسايی فازی از طريق مقايسه الگوی پراش بدست آمده از نمونه مجهول (Diffractogram) با الگوی استاندارد كريستال‌های ايده آل تركيبات، ميسر می‌گردد و همچین اطلاعات ارزشمندی از پیوندهای موجود بین گونه‌های سطح مواد به دست می‌دهد.
یکی از آنالیزهایی که براساس برهمکنش بین پرتوی ایکس و نمونه شکل گرفته است، آنالیز XPS می‌باشد. XPS یک آنالیز قدرتمند برای ارزیابی سطح نمونه به شمار می‌رود، در حقیقت یک تکنیک کمی ـ طیفی است که در آن نوع عناصر و ترکیب شیمیایی عناصر موجود در سطح نمونه قابل‌استخراج است. مهم‌ترین کاربردهای این آزمایش را می‌توان به شرح ذیل بیان نمود: 1- شناسایی عناصر (همه عناصر به جز هیدروژن و هلیوم با این روش قابل شناسایی می‌باشند) 2- تعیین ترکیب عناصر سطح (معمولاً در فاصله 10-1 نانومتر از سطح) با دانستن انرژی قیدی، شکل پیک و اندازه گیری پارامتر اوژه می‌توان ترکیب شیمیایی عناصر را شناخت.
3- تعیین عناصر آلوده‌کننده سطح
4- تعیین یکنواختی ترکیب
5- ضخامت یک تک‌لایه و یا ماده چندلایه‌ای
6- پروفایل عمقی براساس مسیر فرودی پرتو ایکس.
می‌توان پروفایل عمقی سطح نمونه را نیز ارزیابی نمود. این آنالیز برای ترکیبات غیرآلی، آلیاژهای فلزی، نیم‌رساناها، پلیمرها، شیشه‌ها، سرامیک و حتی در صنعت کاغذ، چوب و صنعت بنزین استفاده می‌شود.
3- تعیین عناصر آلوده‌کننده سطح
4- تعیین یکنواختی ترکیب
5- ضخامت یک تک‌لایه و یا ماده چندلایه‌ای
6- پروفایل عمقی براساس مسیر فرودی پرتو ایکس.
می‌توان پروفایل عمقی سطح نمونه را نیز ارزیابی نمود. این آنالیز برای ترکیبات غیرآلی، آلیاژهای فلزی، نیم‌رساناها، پلیمرها، شیشه‌ها، سرامیک و حتی در صنعت کاغذ، چوب و صنعت بنزین استفاده می‌شود.
روش پراكنـدگی ديناميـكی نور يا تفرق نور پويا كه اصطلاحا DLS ناميده می‌شود، يكی از روش‌های مناسب برای تعيين توزيع ابعاد ذرات است. در اين روش، از روی حركت براونی ذرات در فاز سيال می‌توان توزيع ابعاد ذرات در يك محلول را مشخص كرد. سرعت حركت براونی ذرات با اندازه آنها در ارتباط است (معادله استوك - انيشتين) به طوری كه حركت براونی ذرات بزرگتر، آرامتر از حركت براونی ذرات كوچكتر است. پس هرچه ذراتی كه مورد آزمايش قرار می‌گيرند بزرگتر باشند، شدت نوسانات و يا تغييرات الگوی نقطه‌های آنها كندتر خواهد بود و در نتيجه شيب نمودار نزولی همبستگی در محدوده زمانی مشخص، با شدت كمتری سقوط می‌كند. با استفاده از الگوريتم‌های بدست آمده از نرخ شيب نزولی نمودار همبستگی، اين دستگاه می‌تواند توزيع اندازه ذرات مورد آزمايش را بر حسب شدت نور متفرق شده از ذرات ارائه دهد.
اسپکتروسکوپی رزونانس مغناطیسی هسته‌ای (NMR) یک تکنیک تحلیلی قدرتمند است که برای تعیین ساختار، ترکیب و پویایی مولکول‌ها استفاده می‌شود. این تکنیک اطلاعاتی درباره محیط‌های اتمی و مولکولی درون یک نمونه ارائه می‌دهد. در اسپکتروسکوپی NMR، نمونه به یک میدان مغناطیسی قوی تحت نوردهی پالس‌های فرکانس رادیویی قرار می‌گیرد. تعامل هسته‌های نمونه (معمولاً هیدروژن، کربن یا سایر عناصری با لحظه مغناطیسی) با میدان مغناطیسی، طیفی را تولید می‌کند که می‌تواند برای استخراج اطلاعات ارزشمند تجزیه و تحلیل شود.
AAS به معنای طیف‌سنجی جذب اتمی است که از آن برای تجزیه و تحلیل غلظت عناصر خاص در یک نمونه استفاده می‌شود. این تکنیک به طور عمومی در زمینه‌های مختلفی مانند تجزیه و تحلیل محیطی، داروسازی، صنایع غذایی و نوشیدنی و کاربردهای صنعتی استفاده می‌شود.
FTIR به معنای اسپکتروسکوپی فوریه تبدیل مادون قرمز است. این یک تکنیک تجزیه و تحلیلی پرکاربرد برای شناسایی و مشخص کردن ترکیبات شیمیایی بر اساس طیف جذب مادون قرمز آنها است. اسپکتروسکوپی FTIR اطلاعات ارزشمندی درباره گروه‌های عاملی و ساختار مولکولی نمونه ارائه می‌دهد.
آنالیز طیف سنجی مرئی-فرابنفش UV-VIS
آنالیز UV-Vis، به طور کلی، یک روش طیف سنجی است که از جذب نور در محدوده فرابنفش-قابل رؤیت (UV-Vis) توسط مولکول‌ها برای بررسی و اندازه‌گیری خواص شیمیایی و فیزیکی استفاده می‌کند. در این روش، نمونه در معرض نوری قرار می‌گیرد و میزان جذب نور توسط نمونه در طول موج‌های نور مرئی و فرابنفش اندازه‌گیری می‌شود.